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Headline: Jena, Fraunhofer-Institut Angewandte Optik
Caption: Thueringen / Orte / Forschung / Wissenschaft / 7.3.2003 Jena, Fraunhofer-Institut Angewandte Optik, Feinmechanik Ein Gesicht wird mit Hilfe von Streifen-Rastern vermessen. Auf diese Art laesst sich beruehrungslos eine Vielzahl von Messungen durchfuehren in Industrie und Forschung, Oberflaechen-Fehler von Materialien lassen sich feststellen. Das Geraet misst mit 4 handels-ueblichen Digital-Kameras. Als Rechner dient ein normaler PC mit Windows-Betriebssystem. Juergen Aretz, Staatssekretaer Freistaat Thueringen, wird vermessen // Biometrie / Mustererkennung / Vermessung / Technik / Physik
Keywords: Wissenschaft Physik Bundeslaender Thueringen Orte
Byline: Paul Glaser, Berlin
Date: 1998
Country: Deutschland
City: Jena
ID: 1179769239
Credit: Paul Glaser, alle Rechte
Filename: c79-9947_forsch_jena.jpg

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